Siemens
DFT Forum 2024 Japan

Siemens DFT Form 2024 Japanについて

シーメンスEDAのDFT（Design-for-Test）ソリューションで、よりスマートな未来をエンジニアリング

数十億トランジスタのインスタンスから成るICの設計は、複雑化の一途をたどっています。微細化と複雑化がもたらす設計課題に対応しつつ、より高性能で安定したIC製品をいち早く市場に投入するには、製品のテスト可能性を高め、品質や信頼性を向上させるDFT（Design for Testability: テスト容易化設計）が重要なカギとなります。そこでシーメンスEDAは、お客様がスマートかつ効率的にイノベーションを市場に投入できるよう、新しいDFTソリューションやユースモデルを積極的に提供しています。

Tessentのシリコンライフサイクル・ソリューションは、最高のテスト品質と低コストテストを保証し、歩留まり向上と信頼性向上を実現します。 本イベントでは、Tessent ストリーミング・スキャン・ネットワーク（SSN）を活用したテスト時間や低消費電力でのDFT効率化など、Tessent DFT プラットフォームを最大限に活用する方法を中心にご紹介します。また、Tessent AIビジョンの紹介、サイレントデータコラプション・エラーへの対処法、今後製品化される新技術のプレビューも行います。皆様のご参加をお待ちしております。

Siemens DFT Forum 2024 Japanがお届けするのは..
 

情報交換と交流の場

Siemens DFT Forumは、Tessent DFT プラットフォームを最大限に活用する方法を中心としたテクニカルなコンテンツとともに、シーメンスが掲げるDFT戦略やビジョンを解説するDFTコミュニティのための特別なイベントです。ユーザによる事例紹介やネットワーキング・アワーでは、エンジニアの知見の交換や交流を目指しています。

最新技術と顧客事例を織り交ぜたテクニカルセッション

・ SDE (Silent Data Error: サイレント・データ・
　 エラー) - テスト品質向上による無兆候障害回避

・ 2.5/3D ICに対するDFT技術

・ 車載設計とハイパースケール・データセンタの
　 ためのイン・システム・テスト

・ 次世代不揮発性メモリに対するメモリBIST
　 ソリューション

・ 故障解析と診断ドリブン歩留り解析による
　 新たな進歩

・ ユーザ事例紹介ト・データ・エラー) - テスト品質向上による無兆候障害回避

• 2.5/3D ICに対するDFT技術

Tessent DFTの豊富なコンテンツに直接アクセス

DFTに携わるエンジニアやシーメンスのTessent DFTエキスパートが一堂に会し、テクノロジやビジネス面での戦略的なアプローチや課題の解決の情報共有を一気に図るための半日集中イベントです。

各セッションごとにQ&Aの時間を設けていますので、積極的な意見交換が期待できます。

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