Siemens EDA
DFT TechDay 2026 Japan
開催日時: 2026年4月23日（木）13:00 - 20:00（受付: 12:30～）
会 場: ストリングスホテル東京インターコンチネンタル 26F
※ 本イベントのオンライン配信はありません。
Siemens EDA DFT TechDay 2026 Japanについて
数十億トランジスタのインスタンスから成るICの設計は、その複雑性を増すばかりです。微細化と複雑化がもたらす設計課題に対応しつつ、より高性能で安定したIC製品をいち早く市場に投入するには、製品のテスト可能性を高め、品質や信頼性を向上させるDFT（Design for Testability: テスト容易化設計）が重要なカギとなります。シーメンスEDAは、お客様がスマートかつ効率的にイノベーションを市場に投入できるよう、常に新しいDFTソリューションやユースモデルを積極的に提供しています。
本イベントでは、RTL段階でのパワーアウェアなDFT挿入やプレイスメントアウェアDFT挿入といった設計初期段階からのテスト容易化戦略から、AMS回路向けの構造テストおよび機能テストの自動生成、さらにはインシステムテスト（IST）による先進DFTの未来まで、多岐にわたるTessentの最新ソリューションをご紹介します。
Tessentのシリコンライフサイクル・ソリューションは、最高のテスト品質と低コストテストを保証し、歩留まり向上と信頼性向上を実現します。今後の半導体開発を加速させるための実践的な知見を提供する本イベントに、ぜひご参加ください！
Siemens EDA DFT TechDay 2026 Japanがお届けするのは..
情報交換と交流の場
Siemens EDA DFT TechDayは、Tessent DFT プラットフォームを最大限に活用する方法を中心としたテクニカルなコンテンツとともに、シーメンスが掲げるDFT戦略やビジョンを解説するDFTコミュニティのための特別なイベントです。ユーザによる事例紹介やネットワーキング・アワーでは、エンジニアの知見の交換や交流を目指しています。
最新技術と顧客事例を織り交ぜたテクニカルセッション
・ AI/MLを活用したDFTによる生産性の向上
・ RTL段階でのパワーアウェアDFT挿入や
プレイスメントアウェアDFT挿入
・ AMS回路向けの構造テストおよび機能テストの
自動生成
・ インシステムテスト（IST）による先進DFT
・ 先端ノードにおける故障解析の最適化
・ ユーザ事例紹介
Tessent DFTの豊富なコンテンツに直接アクセス
DFTに携わるエンジニアやシーメンスのTessent DFTエキスパートが一堂に会し、テクノロジやビジネス面での戦略的なアプローチや課題の解決の情報共有を一気に図るための半日集中イベントです。
各セッションごとにQ&Aの時間を設けていますので、積極的な意見交換が期待できます。